Beiträge in der Kategorie "Patentstatistik"
Am 1. Juli 2008 treten einige Änderungen im schweizerischen Patentgesetz in Kraft. Für Patentrecherchen eine der wichtigsten Neuerungen: Die Schweizer Patente werden 18 Monate nach dem Anmelde- bzw. Prioritätstag publiziert (bis jetzt werden lediglich erteilte CH-Patente publiziert). Diese Neuerung gilt für Erfindungspatente, die nach dem Inkrafttreten des revidierten Gesetzes angemeldet werden.
Details und weitere Facts in diesem
INPADOCDB Newsletter (PDF)
Thomson Scientific hat eine neue Data Mining- und Visualisierungssoftware angekündigt:
Thomson Data Analyzer. Das Nachfolgeprodukt von
Derwent Analytics wertet Daten aus folgenden Quellen aus:
- bibliographische und inhaltliche Angaben zu Patenten aus dem Derwent World Patents Index und Patents Citation Index
- Patentschriften im Volltext aus Delphion, PatentWeb und Aureka
- bibliographische und inhaltliche Angaben zu Zeitschriftenbeiträgen aus Web of Science und INSPEC
Überdies können auch Daten aus Inhouse Datenbanken und Microsoft Excel-Dateien analysiert werden. Die Analyse und Visualisierung erfolgt mit dem Ziel, Muster und Beziehungen in den Daten sichtbar zu machen oder neue Entwicklungen und Trends zu erkennen.
Die Software
Thomson Data Analyzer wird in gewissem Masse mit
STN AnaVist konkurrieren (siehe Beitrag
Patent- und Forschungsdaten auf neue Art interpretieren).
STN AnaVist zeichnet sich insbesondere durch interaktive Auswertungs- und unterschiedliche graphische Darstellungsmöglichkeiten aus. Derzeit lassen sich mit
STN AnaVist Daten aus den Fach- und Patentdatenbanken CAplus (Chemical Abstracts Online), PCTFULL (WO-Patente im Volltext) und USPATFULL bzw. USPAT2 (US-Patente im Volltext) analysieren.
Links:
STN AnaVist
Die kostenpflichtige End-User Software Matheo Patent ermöglicht die Recherche und statistische Auswertung von Daten in esp@cenet und USPTO. Mit der Evaluations-Version können u.a. die ganze IPC, die IPC-Unterklasse, die Anmelderfirmen, die Erfinder und die Publikationsjahre visualisiert und dynamisch angezeigt werden.
Link:
Matheo Patent
Neben der
Beobachtung interessanter Mitbewerber durch retrospektive Recherchen oder
Infomonitoring müssen Datenbankinformationen oftmals analysiert werden. Auf wissenschaftlich-technischem Gebiet spielt dabei die Patentliteratur durch ihre Vollständigkeit und Systematik eine wichtige Rolle. Mit den beiden speziellen
Patentdatenbanken WPINDEX und DPCI lassen sich sämliche aussagekräftigen Analysen durchführen. Hier zwei Beispiele:
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Anmeldeverhalten
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Entwicklungsportfolio
Aus Patentdatenbanken kann man nützliche Hinweise auf Technologieentwicklungen und Mitbewerber gewinnen. Durch richtige Interpretation der
patentstatistischen Analysen ist ein Konkurrenzvorsprung möglich. Geeignete Informationsquellen sind der Derwent
WORLD PATENTS INDEX (WPINDEX) und der Derwent
PATENTS CITATION INDEX (DPCI). Mit wenigen
STN-Messenger Kommandos oder dem
STN Express Analysis Tool werden in kurzer Zeit aussagekräftige Facts erarbeitet.
Kurs in der Schweiz
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