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Beiträge in der Kategorie "Patentstatistik"

Wichtige Änderung im Patentgesetz der Schweiz

Am 1. Juli 2008 treten einige Änderungen im schweizerischen Patentgesetz in Kraft. Für Patentrecherchen eine der wichtigsten Neuerungen: Die Schweizer Patente werden 18 Monate nach dem Anmelde- bzw. Prioritätstag publiziert (bis jetzt werden lediglich erteilte CH-Patente publiziert). Diese Neuerung gilt für Erfindungspatente, die nach dem Inkrafttreten des revidierten Gesetzes angemeldet werden.

Details und weitere Facts in diesem INPADOCDB Newsletter (PDF)

Schweizer Patent

Thomson Data Analyzer - Data Mining- und Visualisierungssoftware

Thomson Scientific hat eine neue Data Mining- und Visualisierungssoftware angekündigt: Thomson Data Analyzer. Das Nachfolgeprodukt von Derwent Analytics wertet Daten aus folgenden Quellen aus:
  • bibliographische und inhaltliche Angaben zu Patenten aus dem Derwent World Patents Index und Patents Citation Index
  • Patentschriften im Volltext aus Delphion, PatentWeb und Aureka
  • bibliographische und inhaltliche Angaben zu Zeitschriftenbeiträgen aus Web of Science und INSPEC

Überdies können auch Daten aus Inhouse Datenbanken und Microsoft Excel-Dateien analysiert werden. Die Analyse und Visualisierung erfolgt mit dem Ziel, Muster und Beziehungen in den Daten sichtbar zu machen oder neue Entwicklungen und Trends zu erkennen.

Die Software Thomson Data Analyzer wird in gewissem Masse mit STN AnaVist konkurrieren (siehe Beitrag Patent- und Forschungsdaten auf neue Art interpretieren). STN AnaVist zeichnet sich insbesondere durch interaktive Auswertungs- und unterschiedliche graphische Darstellungsmöglichkeiten aus. Derzeit lassen sich mit STN AnaVist Daten aus den Fach- und Patentdatenbanken CAplus (Chemical Abstracts Online), PCTFULL (WO-Patente im Volltext) und USPATFULL bzw. USPAT2 (US-Patente im Volltext) analysieren.

Links:

STN AnaVist

Matheo Patent Software

Die kostenpflichtige End-User Software Matheo Patent ermöglicht die Recherche und statistische Auswertung von Daten in esp@cenet und USPTO. Mit der Evaluations-Version können u.a. die ganze IPC, die IPC-Unterklasse, die Anmelderfirmen, die Erfinder und die Publikationsjahre visualisiert und dynamisch angezeigt werden.

Link: Matheo Patent
Bild: IPC - Matheo Patent Software

Analyse der Mitbewerber durch Patentstatistik

Neben der Beobachtung interessanter Mitbewerber durch retrospektive Recherchen oder Infomonitoring müssen Datenbankinformationen oftmals analysiert werden. Auf wissenschaftlich-technischem Gebiet spielt dabei die Patentliteratur durch ihre Vollständigkeit und Systematik eine wichtige Rolle. Mit den beiden speziellen Patentdatenbanken WPINDEX und DPCI lassen sich sämliche aussagekräftigen Analysen durchführen. Hier zwei Beispiele:

- Anmeldeverhalten
- Entwicklungsportfolio

Patentstatistik und Konkurrenzanalyse

patentstatistik

Aus Patentdatenbanken kann man nützliche Hinweise auf Technologieentwicklungen und Mitbewerber gewinnen. Durch richtige Interpretation der patentstatistischen Analysen ist ein Konkurrenzvorsprung möglich. Geeignete Informationsquellen sind der Derwent WORLD PATENTS INDEX (WPINDEX) und der Derwent PATENTS CITATION INDEX (DPCI). Mit wenigen STN-Messenger Kommandos oder dem STN Express Analysis Tool werden in kurzer Zeit aussagekräftige Facts erarbeitet.

Kurs in der Schweiz

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