Beiträge in der Kategorie "Patentstatistik"

Thomson Data Analyzer - Data Mining- und Visualisierungssoftware

Thomson Scientific hat eine neue Data Mining- und Visualisierungssoftware angekündigt: Thomson Data Analyzer. Das Nachfolgeprodukt von Derwent Analytics wertet Daten aus folgenden Quellen aus:
  • bibliographische und inhaltliche Angaben zu Patenten aus dem Derwent World Patents Index und Patents Citation Index
  • Patentschriften im Volltext aus Delphion, PatentWeb und Aureka
  • bibliographische und inhaltliche Angaben zu Zeitschriftenbeiträgen aus Web of Science und INSPEC

Überdies können auch Daten aus Inhouse Datenbanken und Microsoft Excel-Dateien analysiert werden. Die Analyse und Visualisierung erfolgt mit dem Ziel, Muster und Beziehungen in den Daten sichtbar zu machen oder neue Entwicklungen und Trends zu erkennen.

Die Software Thomson Data Analyzer wird in gewissem Masse mit STN AnaVist konkurrieren (siehe Beitrag Patent- und Forschungsdaten auf neue Art interpretieren). STN AnaVist zeichnet sich insbesondere durch interaktive Auswertungs- und unterschiedliche graphische Darstellungsmöglichkeiten aus. Derzeit lassen sich mit STN AnaVist Daten aus den Fach- und Patentdatenbanken CAplus (Chemical Abstracts Online), PCTFULL (WO-Patente im Volltext) und USPATFULL bzw. USPAT2 (US-Patente im Volltext) analysieren.

Links:

STN AnaVist
Autor: Christoph Neuhaus • Datum: 06.12.2005 • Kategorien: Bibliometrie • Fachdatenbanken • Patentrecherchen • Patentstatistik
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Autor: Christoph Neuhaus • Datum: 06.12.2005 • Kategorien: Bibliometrie • Fachdatenbanken • Patentrecherchen • Patentstatistik
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Matheo Patent Software

Die kostenpflichtige End-User Software Matheo Patent ermöglicht die Recherche und statistische Auswertung von Daten in esp@cenet und USPTO. Mit der Evaluations-Version können u.a. die ganze IPC, die IPC-Unterklasse, die Anmelderfirmen, die Erfinder und die Publikationsjahre visualisiert und dynamisch angezeigt werden.

Link: Matheo Patent
Bild: IPC - Matheo Patent Software
Autor: Andreas Litscher • Datum: 04.11.2005 • Kategorien: Patentrecherchen • Patentstatistik
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Autor: Andreas Litscher • Datum: 04.11.2005 • Kategorien: Patentrecherchen • Patentstatistik
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